計量處理的兩種門徑

現代測量理論的兩條路
1.測量領域爭議的兩種處理門徑，在這裡吾人無意介入這項爭議；但是為了避免這項爭議，所以還是附帶提出說明。
2.這兩種處理門徑具有共同目標：
A.更能了解構念或變項的測量，且修正工具是為了改善構念的操作。
B.估計個人在構念或變項之測量格式上的位置。

第一種處理的門徑
1.編製測驗工具先要有內容效度，編製資料特質的似真模式。
2.模式參數用於解釋試題和個人，不必事先限制模式。
3.主要標準：模式去適合資料
4.1-PLM發展至2-PLM、3-PLM、4-PLM 。
5.IRT發展至NIRT 。

第二種處理的門徑
1.編製測驗工具也是先要有內容效度，然後盡量界定模式，可以具有資料的特質，同意確信測量的標準。
2.模式參數用於幫忙說明試題和個人。
3.在模式與參數上具有事先的特別限制。
4.模式與資料無關，資料在內容上應該有效，也證明固定的可能模式。
5.Georg Rasch發展成 Rasch模式。